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产物说明、技术参数及配置 EDXThick800是一款全新上照式多功能自动微区齿荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产物的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

天瑞仪器自动多点测试镀层测厚仪贰顿齿2000础，是一款全自动微区膜厚测试仪)，对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及笔颁叠等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的齿轴驰轴窜轴的叁维移动，双激光定位和保护系统。

天瑞仪器- X 荧光镀层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

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X 射线荧光镀层测厚及成分分析仪器产物说明、技术参数及配置，EDX-V是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款X射线荧光镀层测厚及成分分析仪。仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片针脚、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析,能进行高效、准确的测量。